2011年全國(guó)材料科學(xué)電子顯微學(xué)會(huì)議及征文通知（第一輪）
一、2011年全國(guó)材料科學(xué)電子顯微學(xué)會(huì)議通知 隨著電子顯微學(xué)事業(yè)的飛躍發(fā)展，材料的電子顯微表征技術(shù)日新月異。具有場(chǎng)發(fā)射槍的高空間分辨分析型TEM，使人們可以采用高分辨技術(shù)、微衍射、電子能譜、電子能量損失譜對(duì)納米尺度的區(qū)域進(jìn)行形貌、結(jié)構(gòu)、成分分析。球差校正TEM又將點(diǎn)分辨率提高到0.08nm。利用環(huán)境掃描電鏡，能在低真空下加熱、冷卻、加氣、加液觀察樣品變化。配備EBSD附件的SEM可以方便地給出材料的晶粒尺寸、晶粒取向、織構(gòu)等信息。STM的問世，實(shí)現(xiàn)了在實(shí)空間觀察到原子排成晶格結(jié)構(gòu)圖像。AFM通過檢測(cè)探針與樣品的作用能在水平方向0.1nm，垂直方向0.01nm的分辨率表征樣品三維形貌。先進(jìn)的儀器設(shè)備，加上方方面面對(duì)科研事業(yè)大力支持，我國(guó)電子顯微學(xué)領(lǐng)域的研究工作已開始步入世界相關(guān)學(xué)科前沿行列中。 伴隨原位觀察與材料性能測(cè)試的需求，應(yīng)運(yùn)而生的各種電鏡樣品臺(tái)的出現(xiàn)和應(yīng)用引起我國(guó)新一輪材料電子顯微學(xué)研究高潮的到來。尤其對(duì)納米材料的結(jié)構(gòu)、電、磁和力學(xué)性能的原位測(cè)量，獲得一系列嶄新的研究成果，為新材料發(fā)展與應(yīng)用推廣提供理論、實(shí)驗(yàn)依據(jù)。更可喜的是具有特定功能的電鏡樣品臺(tái)，不再完全依賴外國(guó)廠商。一些單位和科研人員開始自己設(shè)計(jì)、制造。有的已經(jīng)用于材料研究工作，獲得成功，形成專利產(chǎn)品。在這種形勢(shì)下，召開全國(guó)材料電子顯微學(xué)會(huì)議展示、交流最新科研成果，促進(jìn)我國(guó)材料科學(xué)發(fā)展與進(jìn)步，是適時(shí)的、必要的。 為此，學(xué)會(huì)決定于2011年夏秋季召開全國(guó)材料科學(xué)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)研討會(huì)。大會(huì)將特別邀請(qǐng)國(guó)際、國(guó)內(nèi)顯微學(xué)及相關(guān)科學(xué)領(lǐng)域著名學(xué)者做特邀報(bào)告，以使我國(guó)相關(guān)領(lǐng)域的廣大電鏡工作者和青年學(xué)生獲得與這些著名學(xué)者直接交流的機(jī)會(huì)。 大會(huì)將邀請(qǐng)相關(guān)儀器設(shè)備的廠商做電鏡和其他儀器的最新發(fā)展介紹及產(chǎn)品展示。大會(huì)的學(xué)術(shù)交流內(nèi)容包括透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、微束分析、掃描探針顯微鏡（包括STM、AFM等）、激光共聚焦顯微鏡等在材料科學(xué)、納米科技、化學(xué)化工、環(huán)境科學(xué)、地學(xué)等領(lǐng)域中的基礎(chǔ)和應(yīng)用研究成果；顯微學(xué)相關(guān)儀器的理論、技術(shù)和實(shí)驗(yàn)方法的發(fā)展與改進(jìn)；電鏡及其它顯微學(xué)儀器的使用、改進(jìn)與維修經(jīng)驗(yàn)的交流等。大會(huì)將設(shè)2個(gè)分會(huì)場(chǎng)，分別為掃描電鏡在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用及透射電鏡在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用分會(huì)場(chǎng)。 二、征文 1. 征文內(nèi)容： （1）透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、微束分析儀器、掃描探針顯微鏡（含掃描隧道顯微鏡，原子力顯微鏡等）、激光共聚焦顯微鏡等在材料科學(xué)、化學(xué)化工、地學(xué)、環(huán)境科學(xué)等研究領(lǐng)域和生產(chǎn)中的應(yīng)用。 （2）電子顯微鏡、微束分析儀器、掃描探針顯微鏡（含掃描隧道顯微鏡，原子力顯微鏡等）、激光共聚焦顯微鏡等儀器設(shè)備相關(guān)的理論研究，新產(chǎn)品研制，性能改進(jìn)，軟件開發(fā)等。 （3）顯微學(xué)的圖像處理的理論研究，儀器設(shè)備及軟件研發(fā)。 （4）顯微學(xué)樣品制備的儀器，制樣方法和技術(shù)的研發(fā)與改進(jìn)。 （5）顯微學(xué)儀器的管理、使用及維修方面的經(jīng)驗(yàn)。 會(huì)議將以大會(huì)邀請(qǐng)報(bào)告，分會(huì)場(chǎng)報(bào)告，專題討論，論文展示（poster）等形式進(jìn)行。 2. 論文的體裁、格式、版面要求 (1) 應(yīng)征論文應(yīng)主題突出、數(shù)據(jù)可靠、論證嚴(yán)密、圖像清晰、文句簡(jiǎn)練。要求提供論文詳細(xì)摘要稿1份（2版面），同時(shí)請(qǐng)?zhí)峁┱撐娜母?份（原稿要求未在其他期刊發(fā)表過）。來稿同時(shí)用電子郵件發(fā)至編輯部（E-mail：[email protected]；抄送：[email protected]）（格式見《電子顯微學(xué)報(bào)》征稿簡(jiǎn)則，請(qǐng)登錄學(xué)報(bào)網(wǎng)頁查看：www.dzxwxb.ac.cn；或?qū)W會(huì)網(wǎng)站：www.china-em.net.cn）。論文摘要供會(huì)議論文（摘要）集刊用。論文全文將擇優(yōu)錄用刊載于《電子顯微學(xué)報(bào)》。 (2) 對(duì)論文要求： 入選論文摘要稿將匯編成《2011年全國(guó)材料科學(xué)電子顯微學(xué)會(huì)議論文集》，單獨(dú)印刷出版，不再屬《電子顯微學(xué)報(bào)》。論文集為大16開本，文稿全部?jī)?nèi)容排在170mm×240mm的版面內(nèi)，每篇論文摘要可占2個(gè)版面，所附圖片要求另用A4白紙剪裁整齊，規(guī)范排好。附英文題目、作者單位及作者姓名的漢語拼音。文集將在會(huì)議前出版。（參閱歷屆全國(guó)電子顯微學(xué)會(huì)議出版的論文摘要集的版面格式） 擇優(yōu)選用的論文全文稿將在《電子顯微學(xué)報(bào)》以正刊形式于2011年發(fā)表。要求有詳細(xì)的英文摘要。 (3) 來稿由學(xué)術(shù)委員會(huì)組織專家審閱，根據(jù)文章水平及圖片質(zhì)量擇優(yōu)選用。來稿不論選用與否，概不退回。 (4) 征文截稿日期為2011年4月30日，以郵戳為準(zhǔn)。來稿請(qǐng)寫明聯(lián)系人的姓名、地址、郵編、電話（含手機(jī)）及E-mail地址等。論文稿請(qǐng)寄“北京市中關(guān)村北二條13號(hào)，中國(guó)電子顯微鏡學(xué)會(huì)2011年全國(guó)材料科學(xué)電子顯微學(xué)會(huì)議秘書處，郵編100190”。過時(shí)恕不受理。 聯(lián)系電話：010-82671519（編輯部 李寧春）；E-mail：[email protected]；[email protected] (征文文章) 010-82673560（秘書處 胡萍） E-mail：[email protected]（會(huì)議具體事務(wù)） 中國(guó)電子顯微鏡學(xué)會(huì) “2011年全國(guó)材料科學(xué)電子顯微學(xué)會(huì)議”秘書處 2010年12月30日
