《掃描電鏡測長問題的討論》正式出版
發(fā)布日期：2006-08-22
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由周劍雄研究員等編寫的四川電子科技大學正式出版的“掃描電鏡測長問題的討論”文集，將于2006年5月出版,，歡迎選購,。 該文集不僅是掃描電鏡測長領(lǐng)域的具有開創(chuàng)性的研究成果方面的總結(jié)，也是掃描電鏡,、電子探針以及電子顯微鏡、各類光學顯微鏡,、圖象分析儀等顯微實驗室必備的分析測試手冊和工具,，對于提高實驗室的分析水平以及實驗室的認證和認可具有重要意義。姚駿恩院士正為本書的出版作序,，中國科學院常務(wù)副院長（兼納米標準化技術(shù)委員會主任）白春禮院士也將為本書題字,。詳細介紹見microbeam.com.cn(中華微束分析技術(shù)網(wǎng))。 論文集將不僅是各有關(guān)實驗室和實驗人員的手冊,，而且,，對于廣大使用這類儀器的科學技術(shù)人員和研究生也有重要的參考價值。
