2011年全國材料科學(xué)電子顯微學(xué)會議及征文通知（第一輪）
一,、2011年全國材料科學(xué)電子顯微學(xué)會議通知 隨著電子顯微學(xué)事業(yè)的飛躍發(fā)展，材料的電子顯微表征技術(shù)日新月異,。具有場發(fā)射槍的高空間分辨分析型TEM,，使人們可以采用高分辨技術(shù),、微衍射、電子能譜,、電子能量損失譜對納米尺度的區(qū)域進(jìn)行形貌,、結(jié)構(gòu)、成分分析,。球差校正TEM又將點(diǎn)分辨率提高到0.08nm,。利用環(huán)境掃描電鏡，能在低真空下加熱,、冷卻,、加氣、加液觀察樣品變化,。配備EBSD附件的SEM可以方便地給出材料的晶粒尺寸,、晶粒取向、織構(gòu)等信息,。STM的問世,，實(shí)現(xiàn)了在實(shí)空間觀察到原子排成晶格結(jié)構(gòu)圖像。AFM通過檢測探針與樣品的作用能在水平方向0.1nm,，垂直方向0.01nm的分辨率表征樣品三維形貌,。先進(jìn)的儀器設(shè)備，加上方方面面對科研事業(yè)大力支持,，我國電子顯微學(xué)領(lǐng)域的研究工作已開始步入世界相關(guān)學(xué)科前沿行列中,。 伴隨原位觀察與材料性能測試的需求，應(yīng)運(yùn)而生的各種電鏡樣品臺的出現(xiàn)和應(yīng)用引起我國新一輪材料電子顯微學(xué)研究高潮的到來。尤其對納米材料的結(jié)構(gòu),、電,、磁和力學(xué)性能的原位測量，獲得一系列嶄新的研究成果,，為新材料發(fā)展與應(yīng)用推廣提供理論,、實(shí)驗(yàn)依據(jù)。更可喜的是具有特定功能的電鏡樣品臺,，不再完全依賴外國廠商,。一些單位和科研人員開始自己設(shè)計(jì)、制造,。有的已經(jīng)用于材料研究工作,，獲得成功，形成專利產(chǎn)品,。在這種形勢下,，召開全國材料電子顯微學(xué)會議展示、交流最新科研成果,，促進(jìn)我國材料科學(xué)發(fā)展與進(jìn)步,，是適時(shí)的、必要的,。 為此,，學(xué)會決定于2011年夏秋季召開全國材料科學(xué)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)研討會。大會將特別邀請國際,、國內(nèi)顯微學(xué)及相關(guān)科學(xué)領(lǐng)域著名學(xué)者做特邀報(bào)告,，以使我國相關(guān)領(lǐng)域的廣大電鏡工作者和青年學(xué)生獲得與這些著名學(xué)者直接交流的機(jī)會。 大會將邀請相關(guān)儀器設(shè)備的廠商做電鏡和其他儀器的最新發(fā)展介紹及產(chǎn)品展示,。大會的學(xué)術(shù)交流內(nèi)容包括透射電子顯微鏡,、掃描電子顯微鏡、微束分析,、掃描探針顯微鏡（包括STM,、AFM等）、激光共聚焦顯微鏡等在材料科學(xué),、納米科技,、化學(xué)化工、環(huán)境科學(xué),、地學(xué)等領(lǐng)域中的基礎(chǔ)和應(yīng)用研究成果；顯微學(xué)相關(guān)儀器的理論,、技術(shù)和實(shí)驗(yàn)方法的發(fā)展與改進(jìn),；電鏡及其它顯微學(xué)儀器的使用、改進(jìn)與維修經(jīng)驗(yàn)的交流等。大會將設(shè)2個(gè)分會場,，分別為掃描電鏡在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用及透射電鏡在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用分會場,。 二、征文 1. 征文內(nèi)容： （1）透射電子顯微鏡,、掃描電子顯微鏡,、微束分析儀器、掃描探針顯微鏡（含掃描隧道顯微鏡,，原子力顯微鏡等）,、激光共聚焦顯微鏡等在材料科學(xué)、化學(xué)化工,、地學(xué),、環(huán)境科學(xué)等研究領(lǐng)域和生產(chǎn)中的應(yīng)用。 （2）電子顯微鏡,、微束分析儀器,、掃描探針顯微鏡（含掃描隧道顯微鏡，原子力顯微鏡等）,、激光共聚焦顯微鏡等儀器設(shè)備相關(guān)的理論研究,，新產(chǎn)品研制，性能改進(jìn),，軟件開發(fā)等,。 （3）顯微學(xué)的圖像處理的理論研究，儀器設(shè)備及軟件研發(fā),。 （4）顯微學(xué)樣品制備的儀器,，制樣方法和技術(shù)的研發(fā)與改進(jìn)。 （5）顯微學(xué)儀器的管理,、使用及維修方面的經(jīng)驗(yàn),。 會議將以大會邀請報(bào)告，分會場報(bào)告,，專題討論,，論文展示（poster）等形式進(jìn)行。 2. 論文的體裁,、格式,、版面要求 (1) 應(yīng)征論文應(yīng)主題突出、數(shù)據(jù)可靠,、論證嚴(yán)密,、圖像清晰、文句簡練,。要求提供論文詳細(xì)摘要稿1份（2版面）,，同時(shí)請?zhí)峁┱撐娜母?份（原稿要求未在其他期刊發(fā)表過）,。來稿同時(shí)用電子郵件發(fā)至編輯部（E-mail：dzxwxb@blem.ac.cn；抄送：dzxwxb@126.com）（格式見《電子顯微學(xué)報(bào)》征稿簡則,，請登錄學(xué)報(bào)網(wǎng)頁查看：www.dzxwxb.ac.cn,；或?qū)W會網(wǎng)站：www.china-em.net.cn）。論文摘要供會議論文（摘要）集刊用,。論文全文將擇優(yōu)錄用刊載于《電子顯微學(xué)報(bào)》,。 (2) 對論文要求： 入選論文摘要稿將匯編成《2011年全國材料科學(xué)電子顯微學(xué)會議論文集》，單獨(dú)印刷出版,，不再屬《電子顯微學(xué)報(bào)》,。論文集為大16開本，文稿全部內(nèi)容排在170mm×240mm的版面內(nèi),，每篇論文摘要可占2個(gè)版面,，所附圖片要求另用A4白紙剪裁整齊，規(guī)范排好,。附英文題目,、作者單位及作者姓名的漢語拼音。文集將在會議前出版,。（參閱歷屆全國電子顯微學(xué)會議出版的論文摘要集的版面格式） 擇優(yōu)選用的論文全文稿將在《電子顯微學(xué)報(bào)》以正刊形式于2011年發(fā)表,。要求有詳細(xì)的英文摘要。 (3) 來稿由學(xué)術(shù)委員會組織專家審閱,，根據(jù)文章水平及圖片質(zhì)量擇優(yōu)選用,。來稿不論選用與否，概不退回,。 (4) 征文截稿日期為2011年4月30日,，以郵戳為準(zhǔn)。來稿請寫明聯(lián)系人的姓名,、地址,、郵編、電話（含手機(jī)）及E-mail地址等,。論文稿請寄“北京市中關(guān)村北二條13號,，中國電子顯微鏡學(xué)會2011年全國材料科學(xué)電子顯微學(xué)會議秘書處，郵編100190”,。過時(shí)恕不受理,。 聯(lián)系電話：010-82671519（編輯部 李寧春）；E-mail：dzxwxb@blem.ac.cn,；dzxwxb@126.com (征文文章) 010-82673560（秘書處 胡萍） E-mail：cemshp@163.cn（會議具體事務(wù)） 中國電子顯微鏡學(xué)會 “2011年全國材料科學(xué)電子顯微學(xué)會議”秘書處 2010年12月30日
