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透射電鏡基本知識

發(fā)布日期:2007-10-15 瀏覽數(shù):621

透射電鏡基本知識

電子顯微學介紹 ---- 人們對物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的認識進程


俞大鵬


       電子顯微學是一門探索電子與固態(tài)物質(zhì)結(jié)構(gòu)相互作用的科學,,電子顯微鏡把人眼睛的分辯能力從大約0.2 mm拓展至亞原子量級(<1 A),大大增強了人們觀察世界的能力。電子顯微學開始于上世紀30年代,,經(jīng)過幾十年的不斷發(fā)展和完善,現(xiàn)在已經(jīng)成為凝聚態(tài)物理,、半導(dǎo)體電子技術(shù),、材料、化學,、生物,、地質(zhì)等多學科的非常重要的研究手段。尤其是,,隨著科學技術(shù)發(fā)展進入納米科技時代,,電子顯微鏡更是顯示出其強大的威力??梢哉f,,假如沒有電子顯微鏡,現(xiàn)代科學技術(shù)是不可想象的,,它的發(fā)展與其他學科的發(fā)展息息相關(guān),,密切聯(lián)系在一塊的。


以下是電子顯微學發(fā)展史上一些重要的進程:


       世界上第一臺電子顯微鏡始創(chuàng)于1932年,,它由德國科學家Ruska研制,,奠定了利用電子束研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)基礎(chǔ);


圖1-2 德國科學家Ruska(左)與他的第一臺電子顯微鏡(1932年)


       1946年,,Boersch在研究電子與原子的相互作用時提出,,原子會對電子波進行調(diào)制,改變電子的相位,。他認為利用電子的相位變化,,有可能觀察到單個原子,分析固體中原子的排列方式,。這一理論實際上成為現(xiàn)代實驗高分辨電子顯微分析方法的理論依據(jù),;

        1947年,德國科學家Scherzer提出,,磁透鏡的欠聚焦(即所謂的Scherzer最佳聚焦,,而非通常的高斯正焦)能夠補償因透鏡缺陷(球差)引起的相位差,從而可顯著提高電子顯微鏡的空間分辨率,;

        1956年,,英國劍橋大學的 Peter Hirsch教授等人不僅在如何制備對電子透明的超薄樣品,并觀察其中的結(jié)構(gòu)缺陷實驗方法方面有所突破,,更重要的是他們建立和完善了一整套薄晶體中結(jié)構(gòu)缺陷的電子衍射動力學襯度理論,。運用這套動力學襯度理論,,他們成功解釋了薄晶體中所觀察到的結(jié)構(gòu)缺陷的襯度像。因此50~60年代是電子顯微學蓬勃發(fā)展的時期,,成為電子顯微學最重要的里程碑,;

晶體理論強度、位錯的直接觀察-50-60年代電子顯微學的最大貢獻,;

        1957年,,美國Arizona洲立大學物理系的Cowley教授等利用物理光學方法來研究電子與固體的相互作用,并用所謂“多層法”計算相位襯度隨樣品厚度,、欠焦量的變化,,從而定量解釋所觀察到的相位襯度像,即所謂高分辨像,。Cowley教授建立和完善了高分辨電子顯微學的理基礎(chǔ),;

        1971年,Iijima等人首次獲得了可解釋的氧化物晶體的高分辨電鏡像,,證實了他們所看到的高分辨像與晶體結(jié)構(gòu)具有對應(yīng)關(guān)系,,是晶體結(jié)構(gòu)沿特定方向的二維投影;

圖1-3 日本科學家飯島(Iijima)在WO3-x晶體中獲得了的可解釋的高分辨透射電子顯微鏡像(1971年)70~80年代,,分析型電子顯微技術(shù)興起,、發(fā)展,可在微米,、納米區(qū)域進行成分,、結(jié)構(gòu)等微分析;

       1982年,,英國科學家Klug利用高分辨電子顯微技術(shù),,研究了生物蛋白質(zhì)復(fù)合體的晶體結(jié)構(gòu),因而獲得了諾貝爾化學獎,;

       1984年,,美國國家標準局的Shechtman等科學家、中科院沈陽金屬所的郭可信教授等,,利用透射電子顯微技術(shù),,發(fā)現(xiàn)了具有5次、8次,、10次,,及12次對稱性的新的有序結(jié)構(gòu)----準晶體,極大地豐富了材料,、晶體學,、凝聚態(tài)物理研究的內(nèi)涵;

       1982年,瑞士IBM公司的G. Binning, H. Rohrer等人發(fā)明了掃描隧道顯微鏡(STM),。他們和電子顯微鏡的發(fā)明者Ruska一同獲得1986年諾貝爾物理獎,;

       1991年,,日本的Iijima教授利用高分辨電子顯微鏡研究電弧放電陰極產(chǎn)物時,,發(fā)現(xiàn)了直徑僅幾十納米的碳納米管。


       現(xiàn)代電子顯微學已經(jīng)發(fā)展的相當完備,,從與固體作用方式上,,可分為掃描電鏡和透射電鏡,本課程僅講授相關(guān)的透射電子顯微學部分,。從實驗方法上分,,透射電子顯微方法包括選區(qū)電子衍射(SAED)、衍射襯度分析,、匯聚束衍射(CBED),、高分辨分析(HREM)、微區(qū)成分分析(EDS,、EELs),,及Z襯度分析等。現(xiàn)在還發(fā)展了電子全息分析和電子結(jié)構(gòu)分析等,。


       現(xiàn)在,,通過計算機輔助修正,可以實現(xiàn)零或負值的球差系數(shù),,大大提高了透射電鏡的空間分辨率,,達到低于0.1 納米的點分辨率。另外,,通過單色儀等,,可以使電子束的能力分辨率低于0.1 eV,大大提高了能量分辯能力,。


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